阻抗分析儀TH2839,TH2839A
|
TH2839
|
基本精度：0.05%，頻率：20Hz-10MHz連續，電平5mV-2V，直流偏置：±40V/100mA，獨立電壓源：0-10V，自動平衡電橋，四端對測試；201點列表掃描；多參數圖形分析
|
|
TH2839A
|
基本精度：0.05%，頻率：20Hz-5MHz連續，電平5mV-2V，直流偏置：±40V/100mA，獨立電壓源：0-10V，自動平衡電橋，四端對測試；201點列表掃描；多參數圖形分析
|
性能特點
■ 高精度：自動平衡電橋技術，四端對測試配置
■ 高穩定性和一致性：高達15個測試量程配置
■ 高速度：*快7.7ms/次的測試速度
■ 高分辨：7英寸，800×600分辨率
■ 多功能參數列表掃描
■ 多參數圖形化掃描功能
■ 變容二極管自動極性功能
■ 10檔分選功能，分選結果聲光報警
■ 存儲空間：內置：40組設定文件，USB擴展：500組設定文件、數據記錄文件、圖片文件
■ Ls-RDC同時測試
■ 高兼容性：支持SCPI指令集，兼容KEYSIGHT E4980A、E4980AL、HP4284A等
應用
■ 無源元件： 電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組 件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。
■ 半導體元件： LED驅動集成電路寄生參數測試分析；變容二極管的C-VDC特性； 晶體管或集成電路的寄生參數分析
■ 其它元件： 印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估
■ 介質材料： 塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
■ 磁性材料： 鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
■ 半導體材料： 半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性
■ 液晶單元： 介電常數、彈性常數等C-V特性
