對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試
● 模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量 ● 提高了抗干擾性,在產線的上也能實現高反復精度 ● 1kHz、1MHz測量下,低電容的貼片時可穩定測量 ● 根據BIN的測定區分容量
輸入用探頭/測試夾具,實體不附帶。按照測量目的,不同型號有不同的探頭/測
測量參數
C(電容),D(損耗系數tanδ), Q (1/tan δ)
測量范圍
C:0.001fF~15.0000μF D: 0.00001 ~ 1.99999 Q:0.0 ~ 19999.9
基本精度
(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
測量頻率
1kHz, 1MHz
測量信號電平
500mV, 1V rms
輸出電阻
1Ω (在1kHz 時2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)
顯示
LED(6位顯示,滿量程由點數有效距離來決定)
測量時間
1.5ms:1MHz, 2.0 ms:1kHz
功能
BIN分類測量, 觸發同步輸出, 測量條件記憶, 測量值比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 電流檢測監視功能, 輸出電壓值監視功能, 控制用輸入輸出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口
電源
AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, *大40VA
體積及重量
260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
附件
電源線× 1, 電源備用保險絲× 1,使用說明書× 1
蘇州德計儀器儀表有限公司
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